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天津市泰可博世防静电技术发展有限公司 / 2012-03-06
答:如果泄电的路径包括CMOS器件输入(针可焊点)端之一时,那么剧烈的静电放电将会使CMOS单元电路产生不稳定现象。这会使相关元件的寿命缩短且会产生间歇的故障。你可以切开有故障的元件封装,并将其放在高倍显微镜或扫描电子显微镜下,你就可看到已损坏的区域。